Refrakcijos įtakos sudarant vertikalųjį II klasės tinklą tyrimai
Didžiausią vertikaliųjų tinklų sudarymo sąnaudų dalį sudaro precizinė niveliacija, todėl labai svarbu tobulinti jos technologiją. Vertikaliųjų tinklų pagrindas yra precizinių niveliacijų tinklai. Matavimo metu veikia įvairių klaidų šaltiniai. Viena svarbiausių yra niveliacinės refrakcijos paklaida, todėl precizinėje niveliacijoje refrakcijos skaičiavimas išlieka aktuali problema, nes matavimai atliekami keleto šimtųjų milimetro dalių tikslumu. Šio baigiamojo darbo tikslas išanalizuoti niveliacinės refrakcijos teorinius principus, jos atsiradimo priežastis ir būdus šioms paklaidoms sumažinti. Taip pat atliktas vertikaliosios refrakcijos įtakos matavimo rezultatams tyrimas, naudojant antrosios klasės vertikaliojo tinklo linijų matavimų duomenis ir sudarytos geometrinė bei atributinė duomenų bazės.Darbą sudaro: įvadas, penki skyriai, išvados, literatūros sąrašas.Darbo apimtis - 75 p. teksto be priedų, 70 iliustracijos, 2 lentelės, 28 bibliografinių šaltinių.Atskirai pridedami darbo priedai.
A most input part in formation vertical networks consists precise levelling, so is very important to improve its technology. Vertical network basis is precise levelling networks. During the measures are influencing various sources of error. The most important is levelling refraction, so refraction calculation stay actual problem in precise levelling, because measurements are done several hundredth millimetre accuracy. This final master work purpose is to analise levelling refraction theoretical principles, its appearance reasons and dispositions reduce these errors. Also is done the vertical refraction influence's analysis for measurement results using vertical 2nd network line's measuring data and created geometrical and attributive databasesThesis consist of: 75 p. text without extras, 70 pictures, 2 tables, 28 bibliographical entries.Appendixes included.