Nanometrinių matmenų komparatoriaus tyrimas
Pozniakas, Igoris | Kompiuterių inžinerijos katedra |
Šiame darbe atliktas nanometrinių matmenų komparatoriaus tyrimas, naudojant BSIM4 65 nm tranzistoriaus modelį. Atlikta komparatoriaus schemotechninių sprendimų analizė. Ištirti komparatoriaus statiniai ir dinaminiai parametrai bei jų priklausomybė nuo aplinkos temperatūros. Sudaryta komparatoriaus topologija. Aptarti komparatoriaus topologijos ypatumai. Atliktas komparatoriaus topologijos parametrų tyrimas. Rezultatai palyginti su gautais tiriant komparatoriaus principinę elektrinę schemą. Darbą sudaro 8 dalys: įvadas, vienpolių MOP tranzistorių (45 - 90 nm) gamybos nanotechnologijų literatūros analizė, modelių, taikomų nanometrinių tranzistorių voltamperinių ir dinaminių, komparatorių schemotechninių sprendimų analizė, komparatoriaus statinių ir dinaminių parametrų tyrimas, komparatoriaus topologijos ypatumai, skaičiavimų ir analizės rezultatų apibendrinimas, literatūros sąrašas.Darbo apimtis - 68 p. teksto be priedų, 40 iliustr., 6 lent., 16 bibliografiniai šaltiniai.Atskirai pridedami darbo priedai.
The research of comparator with nanometric dimensions was done. The comparator was simulated using BISM4 65 nm transistor model. The analysis of the comparator schematic was done. The static and dynamic comparator parameters were calculated. The parameters dependence of temperature was also calculate. The comparator topology was designed. The singularities of topology were discussed. The research of comparator topology parameters was accomplished. The results were compared with the comparator circuit research parameters.Structure of the thesis: introduction, literature analysis of CMOS transistors production nanotechnologies (45 - 90 nm) , the research of comparator static and dynamic parameters, the singularities of comparator topology , the generalization of calculation and analysis results, references.Thesis consist of: 68 p. text without extras, 40 pictures, 6 tables, 16 bibliographical entries.Appendixes included.