Use this URL to cite this publication: https://hdl.handle.net/20.500.14911/143703
Диагностика дефектов в приборах микро- и наноэлектроники
Publication Type (CRIS)
Straipsnis recenzuojamoje užsienio tarptautinės konferencijos medžiagoje / Article in peer-reviewed foreign international conference proceedings (P1d)
Publication Type (eLABa)
Straipsnis recenzuotame konferencijos darbų leidinyje / Article published in peer-reviewed conference proceedings (P1d)
Author(s)
| Author | Affiliation |
|---|---|
Богорош, А.Т. | Киевский политехнический институт |
Воронов, С.А. | Киевский политехнический институт |
Ройзман, В.П. | Хмельницкий национальный университет |
Title
Диагностика дефектов в приборах микро- и наноэлектроники
А.Т. Богорош, С.А. Воронов, В.П. Ройзман, Н.Е. Вишняков
Is part of
Повышение качества, надежности и долговечности технических систем и технологических процессов: сборник трудов V международной научно-технической конференции. 3-10 декабря 2006 г., Шарм эль Шейх, Египет / Украинский Национальный комитет IFToMM
Published In
| Year | Start Page | End Page |
|---|---|---|
2006 | 42 | 46 |
Publisher
Хмельницкий : ХНУ, 2006
Extent
p. 42-46
Science / Art Area
Technologijos mokslai / Technological sciences (T)
Field of Science / Art
Medžiagų inžinerija / Materials engineering (T008)
Mechanikos inžinerija / Mechanical Engineering (T009)
Resource Type (COAR)
TextConference outputConference proceedingsConference paper
Language
Rusų / Russian (ru)
Country
Ukraina / Ukraine (UA)
Accounting Year
2007
Owning collection
ISBN (of the container)
9663300159
eLABa ID
3777216