Dynamical study of heat transport properties of porous silicon

Gradauskas, Jonas; Sužiedėlis, Algirdas; Samuolienė, Neringa; Treideris, Marius; Vaičikauskas, Viktoras

Use this URL to cite this publication: https://hdl.handle.net/20.500.14911/151841

Dynamical study of heat transport properties of porous silicon

Details

Publication Type (CRIS)

Straipsnis Web of Science ir Scopus duomenų bazėje / Article in Web of Science and Scopus database (S1)

Publication Type (eLABa)

Straipsnis Web of Science DB / Web of Science DB article (S1)

VILNIUS TECH Research Priorities and Topics

Energijos šaltinių medžiagos ir technologijos / Materials and technologies of energy sources (FM02)

Lithuanian Intelligent Specialization

Energetika ir tvari aplinka / Energy and a sustainable environment (L102)

Author(s)

Author	Affiliation
Gradauskas, Jonas	Valstybinis mokslinių tyrimų institutas Fizinių ir technologijos mokslų centras	Fizikos katedra / Department of Physics (1020)
Sužiedėlis, Algirdas	Valstybinis mokslinių tyrimų institutas Fizinių ir technologijos mokslų centras	Fizikos katedra / Department of Physics (1020)
Samuolienė, Neringa	Fizikos katedra / Department of Physics (1020)
Treideris, Marius	Valstybinis mokslinių tyrimų institutas Fizinių ir technologijos mokslų centras
Vaičikauskas, Viktoras	Valstybinis mokslinių tyrimų institutas Fizinių ir technologijos mokslų centras

Title

Dynamical study of heat transport properties of porous silicon

[en]

Jonas Gradauskas ... [et al.]

Is part of

Materials science (Medžiagotyra)

Published In

Year	Volume	Issue	Start Page	End Page
2015	21	2	179	181

Referenced in Database(s)(DBs)

SCOPUS

INSPEC

Science Citation Index Expanded (Web of Science)

Extent

p. 179-181

URI

URI	Access Rights
https://hdl.handle.net/20.500.14911/151841
Straipsnis	Viso teksto dokumentas (atviroji prieiga) / Full Text Document (Open Access)

Cited references

Science / Art Area

Technologijos mokslai / Technological sciences (T)

Field of Science / Art

Elektros ir elektronikos inžinerija / Electrical and electronic engineering (T001)

Medžiagų inžinerija / Materials engineering (T008)

Fizika / Physics (N002)

Keywords (en)

Abstract (en)

A new fast technique to determine thermal conductivity of porous silicon is proposed. Transient thermoelectric voltage is measured after a pulsed laser irradiation, and analysis of the voltage decay time constant and porosity of the structure gives the value of the thermal conductivity. For n-type Si of 70 % porosity we show the value of 35 W·m–1·K–1. The method can be easily applied for any other porous or otherwise structured low-dimensional media.